PRODUCT CLASSIFICATION
更新時間：2026-01-22 
瀏覽次數：150箱式電阻爐加熱元件的常見故障與元件材質、工況條件及操作維護密切相關，不同類型元件的故障表現存在差異，具體可歸納為以下幾類：
氧化脆化斷裂
這是所有類型加熱元件的共性故障，也是常見的失效原因。
故障表現：元件表面氧化層增厚、剝落，材質變脆，升溫過程中出現斷裂，尤其在彎折處或懸掛支點附近更易發生。
誘因：長期在額定溫度上限運行、頻繁啟停導致的熱疲勞、爐膛內氧氣含量過高；鐵鉻鋁元件在高溫下氧化速度會顯著加快，鎳鉻元件則易因晶界氧化出現沿晶斷裂。
局部過熱燒熔
故障表現：元件局部出現熔蝕、鼓包甚至熔斷，伴隨爐膛內局部溫度異常偏高。
誘因：加熱元件安裝間距過小，導致熱流疊加形成高溫區；物料與元件直接接觸，造成局部熱傳導失衡；溫控系統失靈（如熱電偶脫落、固態繼電器粘連）引發超溫。
電阻值異常漂移
故障表現：元件電阻值大幅升高，導致爐體升溫速率變慢、額定溫度無法達到，或溫控儀表頻繁報警。
誘因：碳化硅棒長期高溫使用后，表面生成玻璃相氧化層，電阻值隨使用時間逐漸上升；硅鉬棒在低溫段（≤400℃）發生 “粉化" 氧化，造成電阻值波動；元件接線端子氧化，接觸電阻增大。
腐蝕點蝕穿孔
故障表現：元件表面出現點狀凹坑，逐步發展為穿孔，通電時出現漏電或短路現象。
誘因：爐膛內存在硫、氯、堿金屬等腐蝕性介質（如加熱含硫礦物、潮濕物料）；鎳鉻元件在含硫氣氛中易生成低熔點硫化物，破壞氧化保護層；鐵鉻鋁元件在氯氣氛下會發生晶間腐蝕。
熱震開裂（針對非金屬元件）
故障表現：碳化硅棒、硅鉬棒出現橫向或縱向裂紋，通電后電流分布不均，局部過熱加劇。
誘因：升溫 / 降溫速率過快，元件內外溫差過大產生熱應力；高溫時突然打開爐門，冷空氣沖擊造成驟冷；裝料時碰撞元件導致隱性裂紋，后續高溫工況下裂紋擴展。
返回列表
您的位置：
